Теми рефератів
> Реферати > Курсові роботи > Звіти з практики > Курсові проекти > Питання та відповіді > Ессе > Доклади > Учбові матеріали > Контрольні роботи > Методички > Лекції > Твори > Підручники > Статті Контакти
Реферати, твори, дипломи, практика » Курсовые обзорные » Методи структурного аналізу тонких плівок. Метод дифракції електронів низьких енергій (ДЕНЕ)

Реферат Методи структурного аналізу тонких плівок. Метод дифракції електронів низьких енергій (ДЕНЕ)





руктур наведено на рис. 7.7, де показані первісна структура з періодом а, структура з періодом 2а, що виникає за рахунок вакансій в кожному другому вузлі, і структура з тим же періодом 2а, що виникає за рахунок сдваивания прилеглих атомів. Структури бів складаються з атомів, які мають вельми різні положення, а результатом є одні й ті ж картини ДЕНЕ.


В 

Малюнок 5. Атомні ряди з періодичністю: а - а, б - 2а і в - 2а. У випадках б і в виникає одна і та ж картина ДЕНЕ для максимумів порядку 1/2 при різних розташуваннях самих атомів; 1 - напрям падаючого пучка. br/>

Хоча визначення положень атомів за допомогою дифракції електронів низьких енергій не є однозначним, можна передбачити симетрію дифракційного зображення, виходячи з розташування атомів в реальному просторі. На рис. 6 показані приклади зовнішніх шарів на поверхні (100) кубічного кристала. Буква р на рис. 6 вказує, що елементарна комірка є примітивною, а картина дифракції електронів низьких енергій для р (2х2) має додаткові плями напівцілого порядку. Буква с на рис. 6 вказує, що елементарна комірка має додатковий рассєїватель в центрі, дає плями 1/2, 1/2 на дифракційної картині. br/>В 

Малюнок 6. Верхні шари поверхні (100) кубічного кристала (а) в реальному просторі і відповідні їм картини ДЕНЕ в просторі зворотних векторів (б). br/>

Загалом, зміни періодичності поверхні призводять до змін дифракційної картини, які можуть легко спостерігатися і інтерпретуватися в термінах нової двовимірної симетрії. Такі зміни часто спостерігаються, наприклад, при адсорбції газів на кристалічних поверхнях. Атоми газу часто розташовуються впорядкованим чином з періодичністю, які виходять множенням періодичності підкладки на цілі числа. Стандартним позначенням для таких структур є M (hkl) - (nxm)-C, де М - хімічний символ елементу, поверхня якого розглядається; (hkl) означає кристалічну площину, паралельну поверхні; (пxт) показує, що нова поверхнева структура має періодичність, яка в n разів перевищує первісну періодичність поверхні в напрямку а і в т разів - у напрямку b. Нарешті, С є хімічним символом адсорбованого газу або іншого забруднення поверхні. Часто перед (nxт) ставиться літера: наприклад, р означає, що нова елементарна комірка є примітивною, або з, яка позначає центровану клітинку. Символ р часто опускають для стислості. Якщо нова елементарна осередок повернута відносно підкладки, то вказується кут взаємної орієнтації. Прикладами таких позначень є Ni (111) (2x2) -0, Pt (100)-C (2x2)-C 2 H 5 , W (110)-C (9x5)-СО і Si (111) - (7 X 7).


В 

Малюнок 7. Картини ДЕНЕ на Si (100) для чистої поверхні (а) і поверхні, покритої воднем (б). br/>

У першому випадк...


Назад | сторінка 8 з 10 | Наступна сторінка





Схожі реферати:

  • Реферат на тему: Методика вимірювання шорсткості поверхні сталевих прутків зі спеціальною об ...
  • Реферат на тему: Магнетронний метод отримання тонких плівок на поверхні стекол
  • Реферат на тему: Приведення рівняння кривої і поверхні другого порядку до канонічного вигляд ...
  • Реферат на тему: Шорсткість поверхні і її зображення на кресленнях
  • Реферат на тему: Оптико-електронний метод визначення розмірів мікрооб'єктів поверхні зно ...