Теми рефератів
> Реферати > Курсові роботи > Звіти з практики > Курсові проекти > Питання та відповіді > Ессе > Доклади > Учбові матеріали > Контрольні роботи > Методички > Лекції > Твори > Підручники > Статті Контакти
Реферати, твори, дипломи, практика » Курсовые обзорные » Розрахунок температурних залежностей електрофізичних параметрів напівпровідників

Реферат Розрахунок температурних залежностей електрофізичних параметрів напівпровідників





трація електронів дорівнює рівноважної концентрації дірок :


(1.1.1)

Індекс i походить від англ. intrinsic - власний. Як зазначалося, розподіл електронів по енергіях в твердому тілі в загальному випадку підпорядковується статистиці Фермі-Дірака. При цьому ймовірність знаходження електрона на рівні з енергією Е визначається функцією [1]. Будь енергетичний рівень може або бути зайнятий електроном, або залишатися вільним (зайнятий діркою). Сума ймовірностей цих двох подій повинна дорівнювати одиниці


(1.1.2)


Тоді ймовірність заповнення енергетичного рівня діркою:


(1.1.3)


де - рівень Фермі.

З (1.1.3) випливає, що функція ймовірності для дірок цілком аналогічна функції ймовірності для електронів. Різниця полягає лише в тому, що для дірок енергія зростає при русі вниз від рівня Фермі, тобто чим В«глибшеВ» знаходиться дірка, тим більше її енергія. p align="justify"> Зазвичай в напівпровідниках електрони і дірки мають енергію, значно відрізняється від енергії Фермі. Різниця - . як правило, більш ніж в три рази перевищує значення kT . Тому в знаменнику формули (1.1.3) одиницею можна знехтувати:


; (1.1.4)


Зроблене припущення означає перехід від квантового розподілу Фермі - Дірака до класичної статистикою Максвелла-Больцмана. Ймовірність заповнення енергетичних рівнів електронами і дірками у власному напівпровіднику показана на малюнку 1.1.1


В 

Малюнок 1.1.1 - Енергетична діаграма і функція ймовірності запалення енергетичних рівнів для власного напівпровідника


Для визначення концентрації електронів в напівпровіднику треба проінтегрувати по енергії твір функції розподілу щільності енергетичних рівнів у зоні провідності [1] Пасинків (1.3)] і ймовірності заповнення цих рівнів електронами. Інтегрування потрібно проводити від нижнього (Е з ) до самого верхнього рівня зони провідності, тобто


(1.1.5)


де - ефективна густина станів у зоні провідності, енергія яких наведена на дно зони провідності.

Аналогічним чином для рівноважної концентрації дірок в будь-якому невиродженому напівпровіднику отримаємо:


(1.1.6)


Назад | сторінка 4 з 20 | Наступна сторінка





Схожі реферати:

  • Реферат на тему: Дослідження статистичної залежності тиску в ідеальному газі Фермі-Дірака ві ...
  • Реферат на тему: Рух електрона в однорідних полях. Аналіз енергії електронів методом гальму ...
  • Реферат на тему: Знаходження ймовірності подій
  • Реферат на тему: Розрахунок и конструювання сталевої стропільної фермі покриття промислового ...
  • Реферат на тему: Протоколи NetWare: основи технології, доступ до середовища, мережевий рівен ...